【成果简介】近日，多支队伍电负达灾郑州大学张振中教授课题组构建了一种连续性细胞间递送的纳米系统（MFLs/LAOOH@DOX），多支队伍电负达灾其以膜融合脂质体为载体，同时在在脂质体磷脂双分子层及水溶性内核中分别包载亚油酸过氧化物（LAOOH）和抗肿瘤药物多柔比星（DOX）

【图文导读】图1. 内应力与外应力对k值影响的示意图  a.外应力对k值影响示意图，抢修全力抢修区用前其中m1和m2表示施密特因子，F是外应力。先前，保供研究者认为，织构对k值的影响主要是由于取向的改变影响了主导变形机制。

在此基础上，复电该课题组将晶体学取向影响k的作用分为内应力作用和外应力作用（如图1所示），复电并将两种作用在细晶强化的位错塞积模型中进行准确表达，发展了一个计算k值的新的方程：k=2σdm′-1r1/2                                           (6)与已有的方程相比，新提出的方程能够更为准确的预测已报道的k值对织构的依赖性（如表1所示）。此外，涿州先前研究报道了几种计算k值的公式，涿州例如：k=M(απM*τcGb) 1/2                                         (2)k=M2 τc r1/2                                               (3)k=M(ατcGb) 1/2                                            (4)实验研究结果表明，这些方程能够很好适用于fcc和bcc晶体结构材料，但是经常在预测镁合金中k值对取向的依赖性时常常失效。欢迎大家到材料人宣传科技成果并对文献进行深入解读，主城投稿邮箱:[email protected].投稿以及内容合作可加编辑微信：cailiaorenVIP.。

此外，荷已镁合金在加工成型过程中往往会形成强基面织构，造成力学性能强烈的各向异性。但是镁合金强度低、多支队伍电负达灾塑性差等缺点限制了其广泛的应用。

先前的研究结果表明，抢修全力抢修区用前在fcc和bcc晶体结构材料中，织构对k值影响很小。

保供【成果简介】重庆大学信运昌教授课题组在先前研究中提出了分析织构影响k的新参数及其计算方法(ActaMaterialia128(2017)313-326)。先前的研究结果表明，复电在fcc和bcc晶体结构材料中，织构对k值影响很小。

此外，涿州先前研究报道了几种计算k值的公式，涿州例如：k=M(απM*τcGb) 1/2                                         (2)k=M2 τc r1/2                                               (3)k=M(ατcGb) 1/2                                            (4)实验研究结果表明，这些方程能够很好适用于fcc和bcc晶体结构材料，但是经常在预测镁合金中k值对取向的依赖性时常常失效。欢迎大家到材料人宣传科技成果并对文献进行深入解读，主城投稿邮箱:[email protected].投稿以及内容合作可加编辑微信：cailiaorenVIP.。

荷已研究结果以QuantitativepredictionoftextureeffectonHall–Petchslopeformagnesiumalloys为题发表在金属领域国际顶尖期刊《ActaMaterialia》上。多支队伍电负达灾c.相邻晶粒基面与柱面传递时m′随相邻晶粒取向变化